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「電子機器の誤動作防止に関する講演会」の参加者を募集します-EMC(電磁両立性)に関する試験規格動向やノイズ対策技術を紹介-

 あいち産業科学技術総合センターでは、高度計測分析機器を用いた分析・評価により、企業の方々の新技術・新製品開発への取組や現場の課題解決を支援しています。
 電子機器から発生する電磁ノイズは、周囲の電子機器が誤動作を起こす原因となることがあります。そのため、電子機器には、意図しない電磁ノイズの発生を抑えることに加え、電磁ノイズを受けても誤動作を起こさないこと(EMC*1:電磁両立性)が求められます。
 今回、EMC試験に携わる技術者に関心の高い「EMC試験規格の最新動向」と「電磁ノイズ対策技術」に焦点をあてた講演会を、平成29年8月29日(火曜日)に、あいち産業科学技術総合センター(豊田市)にて開催します。
 講演後には、当センターの分析機器及び隣接するあいちシンクロトロン光センター*2の見学会を行います。
 参加は無料です。多くの皆様の御参加をお待ちしています。

1 日時

 平成29年8月29日(火曜日) 午後1時30分から午後5時まで

2 場所

 あいち産業科学技術総合センター 1階 講習会室
 住所:豊田市八草町秋合1267-1  電話:0561-76-8316
 (東部丘陵線リニモ「陶磁資料館南」駅 下車すぐ)

3 主催等

主催:あいち産業科学技術総合センター
共催:公益財団法人科学技術交流財団
        愛知工研協会

4 内容

(1)講演1(午後1時35分~午後2時55分)
  「CISPR35*3の概要と無線周波電磁界イミュニティ*4規格の最新動向」
      講師:株式会社東陽テクニカ ワンテクノロジーズカンパニー
              シニア・エキスパート 中村(なかむら) 哲也(てつや) 氏

(2)講演2(午後3時5分~午後4時25分)
     「EMC設計、ノイズ対策のご紹介」
     講師:イーエムテクノロジー株式会社
             主席コンサルタント 山中(やまなか) 誠(まこと) 氏

(3)見学会(午後4時30分~午後5時):希望者のみ
     あいち産業科学技術総合センター
     (EMC試験設備、高度計測分析機器、3Dプリンタ)
     あいちシンクロトロン光センター

5 参加費

 無料

6 定員

 80名(申込先着順)

7 申込方法  

 ・技術開発に取り組む企業の方々を始め、どなたでも自由に参加できます。
 ・参加申込書に必要事項を記入の上、FAX、郵送又はE-mailでお申し込みください。
  ・申込書は、あいち産業科学技術総合センターのWebページ又は以下からダウンロードできます。

   参加申込書 [PDFファイル/508KB]

8 申込期限

平成29年8月28日(月曜日) 午後5時(必着)
※定員に達し次第締め切ります。御了承ください。
※参加受付証は発行しません。お申込みの上、直接会場にお越しください。
  なお、定員超過の場合は連絡させていただきます

9 申込先及び問合せ先

あいち産業科学技術総合センター
 共同研究支援部 試作評価室(担当:浅井、池口)
 〒470-0356  豊田市八草町秋合1267-1
 電話:0561-76-8316    FAX:0561-76-8317
 E-mail: AIC0000001@chinokyoten.pref.aichi.jp
 U R L :http://www.aichi-inst.jp/

【用語説明】
用語説明
*1 EMC(電磁両立性) 電磁両立性(EMC: Electromagnetic Compatibility)とは、電気・電子機器について、それらから発する電磁ノイズが、ほかのどのような機器、システムに対しても影響を与えず、また、ほかの機器、システムからの電磁ノイズを受けても自身も本来の性能を維持する耐性。
*2 あいちシンクロトロン光センター (公財)科学技術交流財団が運営する、ナノテク分野の研究開発を支援する最先端の計測分析施設。平成25年3月に「知の拠点あいち」にオープンした。愛称:Aichi SR。産業利用を主目的としており、あいち産業科学技術総合センターが備える高度計測分析機器との相互利用を図ることにより、地域企業の技術的な課題解決を強力に支援する。
*3 CISPR35 国際電気標準会議(IEC)の特別委員会である国際無線障害特別委員会(CISPR)が定めたEMC試験規格の一つ。電磁妨害が存在する環境で、マルチメディア機器が性能低下せずに動作できる能力を有するかを評価する。
*4 イミュニティ 電磁妨害が存在する環境で、機器、装置又はシステムが性能低下せずに動作することができる能力のこと。

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