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「東三河のモノづくりのための知の拠点あいち活用セミナー」の参加者を募集します-高度計測分析機器とシンクロトロン光による技術支援-

 「知の拠点あいち」のあいち産業科学技術総合センター及びあいちシンクロトロン光センター※1では、先端的な高度計測分析機器を用いた分析・評価により、企業の方々の新技術・新製品開発への取組や現場の課題解決を支援しています。
 この度、具体的な活用事例を交えながら、シンクロトロン光を始めとする高度計測分析をモノづくりに活用していただくためのセミナーを平成29年10月27日(金曜日)に、愛知県東三河総合庁舎(豊橋市)にて開催します。セミナー終了後には、当センター職員及びあいちシンクロトロン光センターコーディネーターによる面談形式の技術相談会を行います(希望者のみ)。
 参加費は無料です。多くの皆様の御参加をお待ちしています。

1 日時

 平成29年10月27日(金曜日) 午後1時30分から午後5時まで

2 場所

 愛知県東三河総合庁舎 2階 大会議室
 住所:豊橋市八町通5-4
 電話:0532-54-5111(代表)
   豊橋鉄道市内線「東八町」、下車徒歩3分
 ※総合庁舎の駐車場には限りがあります。公共交通機関の利用にご協力ください。

3 主催

 愛知県(東三河総局企画調整部産業労働課、あいち産業科学技術総合センター)、
 公益財団法人 科学技術交流財団(あいちシンクロトロン光センター)

4 内容

(1)「知の拠点あいち」あいち産業科学技術総合センターの概要
    あいち産業科学技術総合センター 副所長 加藤淳二 (かとうじゅんじ)

(2)あいちシンクロトロン光センターの活用事例の紹介
   -金属材料、電池材料、ゴム材料などへの活用-
    あいちシンクロトロン光センター リエゾン 渡辺義夫 (わたなべよしお)

(3)愛知県の技術支援を活用した東三河地域の企業による講演
   (ア)東三河山間部より世界の化粧品に貢献する「愛知産絹雲母(きぬうんも)」
    講師 三信鉱工(さんしんこうこう)株式会社 研究開発室 室長 浅井 巌 (あさいつよし)氏

 (イ)わが社の高機能メッシュを用いた社会貢献に役立つマスクなどの研究開発
  講師 株式会社くればぁ 取締役社長 中河原 毅 (なかがわらつよし)氏

(4)あいち産業科学技術総合センターの計測分析事例の紹介
   (ア)抗菌ナノファイバー繊維のシンクロトロン光評価
   (イ)金属加工に関するSEM※2及びシンクロトロン光を用いた評価
   (ウ)本センターの高度計測分析機器の紹介

(5)愛知県産業労働部の技術開発支援施策の紹介
   (ア)新あいち創造研究開発補助金について
   (イ)新エネルギー実証研究エリアについて

(6)技術相談会:希望者のみ個別に実施します。
    あいち産業科学技術総合センター職員及びあいちシンクロトロン光センターコーディネーターが御相談に応じます。

5 参加費

 無料

6 定員

 100名(申込先着順)

7 対象者

 技術開発に取り組む企業の方々を始め、どなたでも参加できます。

8 申込方法

 ・参加申込書 [PDFファイル/536KB]に必要事項を記入の上、FAX 又はE-mailでお申し込みください。
 ・申込書は、あいち産業科学技術総合センターのWebページ(http://www.aichi-inst.jp/news/)からダウンロードできます。

9 申込期限

 平成29年10月25日(水曜日)午後5時(必着)
 ※定員に達し次第、締め切ります。御了承ください。
 ※参加受付票は発行しません。お申込みの上、直接会場にお越しください。
  なお、定員超過の場合は御連絡させていただきます。

10  申込先及び問合せ先

 あいち産業科学技術総合センター
  共同研究支援部 計測分析室(担当:中尾、中川)
  〒470-0356  豊田市八草町秋合1267-1
  電話:0561-76-8315   FAX:0561-76-8317
  E-mail:AIC0000027@chinokyoten.pref.aichi.jp
  U R L :http://www.aichi-inst.jp/ 

【用語説明】
用語説明
※1
あいちシンクロトロン光センター
 (公財)科学技術交流財団が運営する、ナノテク分野の研究開発を支援する最先端の計測分析施設。平成25年3月に「知の拠点あいち」にオープンした。愛称:Aichi SR。
 産業利用を主目的としており、あいち産業科学技術総合センターが備える高度計測分析機器との相互利用を図ることにより、地域企業の技術的な課題解決を強力に支援する。
※2
SEM
 Scanning Electron Microscope (走査型電子顕微鏡)の略。
 光よりも波長の短い電子線を使って、物質の表面の微細な構造を観察することができる。数nm程度の構造まで観察することができ、金属、セラミックス、バイオなど様々な分野で幅広く活用されている。

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